Сканирующий зондовый микроскоп — это общий термин для микроскопов, сканирующих поверхность образцов чрезвычайно острым зондом для получения пространственного изображения или наблюдения локальных свойств при больших увеличениях. Модель SPM-9700HT демонстрирует улучшенные характеристики, более удобна в эксплуатации, чем предыдущие модели.

Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) — один из мощных современных методов исследования формы и локальных свойств поверхности твёрдого тела. С помощью сканирующего зондового микроскопа можно получить цифровое трёх мерное изображение атомарной решётки, живой клетки, интегральной микросхемы, структуры полимера и т.д.

Сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700HT для получения трёхмерного изображения поверхности и её физических характеристик

• трехмерное изображение рельефа поверхности образцов металлов, полупроводников, керамики, макромолекул и биологических объектов с увеличением в несколько тысяч или миллионов раз.
• измерение значения следующих физических свойств поверхности с пространственным разрешением в доли нанометра:

1. механических (силу трения, адгезию, жесткость, эластичность)
2. электрических (потенциал, проводимость)
3. магнитных (распределение намагниченности).

• SPM-9700HT можно использовать в материаловедении, полупроводниковой промышленности, биологии, медицине, при физических и химических исследованиях.

 

Стандартные режимы работы сканирующего микроскопа:

• Контактный режим
• Режим латеральных сил
• Динамический режим
• Фазовый режим
• Режим силовой модуляции
• Силовая кривая

Опциональные режимы работы микроскопа SPM-9700HT:

• Режим проводимости
• Режим поверхностного потенциала (кельвин-микроскопия)
• Магнитно-силовой режим (магнитно-силовая микроскопия)
• Силовое картирование
• Режим векторного сканирования
• Режим сканирования в слое жидкости
• Электрохимическая атомно-силовая микроскопия

 

Опции для расширения возможностей SPM-9700HT:

• Оптический микроскоп с цифровой камерой
• Волоконно-оптический осветитель
• Блоки широко/узко-форматного и глубинного сканирования
• Климатическая камера с нагревателем образцов, контролем температуры, влажности и газового состава атмосферы
• Программа анализа распределения частиц по размерам

 

Механизм скольжения головки

Высокая стабильность & Высокая производительность

Позволяет всей оптической системе скользить как единое целое, сохраняя ее жесткость.

• Лазер остается стабильным и освещает кантилевер даже во время замены образцов.
• Конструкция устойчива к вибрациям, шуму, ветру и другим внешним возмущениям, так что нет необходимости в специальном кожухе.
• Прибор включает встроенный поглотитель вибраций.

Удачное решение открывает доступ к области вокруг образца при поддержании высокой жесткости всей системы

• Можно заменять образцы без удаления держателя кантилевера.
• К образцам есть доступ даже во время измерения.
• Высота образца настраивается автоматически, независимо от его толщины.

Визуализация 3D изображения

1. Используйте мышь для изменения масштаба и свободного вращения изображений или изменения увеличения по оси Z. Это позволяет представлять полученные данные различными способами, подтверждая эти данные в режиме реального времени.

2. Функция текстуры

Информация о высоте может быть наложена на информацию о физических свойствах. Это позволяет ясно показать соотношения между двумя параметрами.

3. Анализ профилей поперечного сечения

В 3D изображениях можно анализировать профили сечения. Если информация о физических свойствах выражена в терминах текстуры, соответствующие профили сечения могут быть показаны и проанализированы в том же месте.

 

Легкость выполнения операций

Революционный графический пользовательский интерфейс обеспечивает неограниченную поддержку операций, начиная от наблюдения в режиме реального времени до анализа данных в автономном режиме.

 

Функциональность и возможности расширения системы

Богатый выбор режимов измерения

 

Дополнительные возможности

WET-SPM = SPM-9700HT + климатическая камера

При добавлении климатической камеры сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700HT превращается в систему WET-SPM.

 

Программное обеспечение для исследования частиц

Режимы наблюдения	Стандартная комплектация	Контактный Динамический Отображение фазы Латерально-силовая микроскопия (LFM) Модуляция силы
	Опции	Магнитно-силовая микроскопия (MFM) Силовая кривая Кельвин-зондовая силовая микроскопия (KFM)
Разрешение	Оси X, Y	0,2 нм
	Ось Z	0,01 нм
Головка SPM	Перемещение детектирующей системы	Источник света / оптический рычаг / детектор
	Источник света	Лазерный диод (ВКЛ/ВЫКЛ) Непрерывное освещение кантилевера, даже при смене образца
	Детектор	Фотодетектор (ФЭУ)
Сканер	Привод	Трубчатый пьезоэлектрический элемент
	Максимальные диапазоны сканирования (X, Y, Z)	10 µm x 10 µm x 1 µm (стандартная комплектация) 30 µm x 30 µm x 5 µm (опция) 125 µm x 125 µm x 7 µm (опция) 55µmx 55µmx 13µm (опция) 2,5 µm x 2.5 µm x 0,3 µm (опция)
Столик для образца	Максимальные размеры образца	Ø 24 мм x 8 мм
	Метод смены образца	Механизм скольжения головки со встроенной системой перемещения детектора и кантилевером. Смена образца без удаления кантилевера.
	Метод фиксации образца	Магнитный зажим
Механизм настройки по оси Z	Метод	С помощью шагового двигателя, полностью автоматический, независимо от толщины образца
	Максимальный ход	10 мм
Система изоляции вибраций	Антивибрационная система	Встроена в блок SPM
Специальный корпус		Нет необходимости, либо используется камера контроля окружающей среды.
Контроль окружающей среды		Специальная камера без какой-либо модификации микроскопа.